美國博曼半導體膜厚測試儀  博曼X射線熒光鍍層厚度測量儀

美國博曼膜厚測試儀在歐美一代已是風靡一時，美國博曼帶着高性能低價位的膜厚儀進入中國市場，在原來高精密的技術下不斷地發展，成為可對應較廣應用範圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。
金東霖科技攜手美國博曼膜厚儀將幫你在品質的關口上把關，控制您的資源物料，節省您的寶貴時間。給我一個機會，我們還您一個滿意。

產品副

技術參數：
　　可測量元素：原子序數13-22號；X射線源：微聚焦型W靶鈹窗X射線管功率50W；濾波器：4種不同規格濾波器；照射方式：上方垂直照射方式；檢測器：Si-PIN探測器 25mm2 PIN 電制冷固態探測器；准直器：圓形：Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm；安全性能：樣品室門自鎖功能、樣品防衝撞功能、自動診斷功能；樣品圖像對焦方式：激光自動對焦；樣品觀察：彩色CCD攝像頭 倍率光學器 鹵素燈照明；樣品平臺大小：長:210毫米(8.3”） 寬:310毫米(12), 高:140毫米(5.5“)；重量：38公斤；修正功能：底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正。