功能與特點
CST-50型衝擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型衝擊試樣缺口質量而設計、開發的一種專用光學儀器，試樣放大后的影像與刻在投影屏上的衝擊試樣缺口標準樣板圖進行對比，以確定被檢測的衝擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高。是理化試驗室的必備專用設備。
主要技術參數
投影屏：       200×200mm
放大倍數：     50X
光源：         12V   100W（鹵鎢燈）
電源：         220V  50Hz   150W
外型尺寸：     515×224×603mm
重量：         約18Kg