1、 性能參數及技術指標
分析元素範圍:Mg-U;
元素含量分析範圍:1ppm -99.99%(採用1024道多道分析器,分析精度更高);
採用美國航天技術的Si (PIN)半導體探測器計數,配合專利的數字脈衝處理技術,能量分辨率優于150eV;
測量範圍:1-30KeV;
重複性:<0.1%;穩定性:< 0.01%;
高壓:5kV-40kV(激發源為進口 40KV-鎢靶微型X射線管);
管流:5μA-200μA;(可減少整機功耗和降低輻射);
專業的穩定電源:AC 220V±1%,50HZ(採用國內最先進的高品質穩壓電源1000W);
額定功率:50W;
整機能量分辨率:160±5eV;
檢測時間: 120S-300S(時間隨樣品調整);
儀器重量:40Kg;
儀器尺寸:600(W)X600(D)X500(H)mm;
圓形超大樣品真空腔:直徑140mm,高50mm;
工作環境溫度:溫度0-40℃;樣品溫度<70℃;
最低檢出限:Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm;
工作環境相對濕度:≤99%(不結露);
測量物質狀態:固體、粉末、液體均可測,制樣簡單;
校正方式:採用歐盟RoHS 塑膠標樣校準數據;
一體化設計,性能穩定,運行可靠,性價比高,操作簡單,測量時間短,同時配備PC機,分析儀通過無線藍牙技術可單獨和PC進行通信測試,方便使用;
穩定精確的RoHS測試模式;
適用於電子產品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)檢測;
適用於服裝行業纖維,布料中鉛的含量測試、拉鍊紐扣等ROSH有害物質檢測
適用於銅行業環保銅的成分,含量檢測和合金分析;
2 、儀器硬件配置
採用進口的美國航天技術的Si(PIN)半導體探測器系列
採用獨特專利數字脈衝採集電路及專利的電源管理技術
採用國產小功率X光管
採用專用X光管高壓電源
採用專有金屬濾光片技術和切換技術
採用精密的系統控制電路和數字處理電路
採用專有的分析算法軟件模塊V2.0A
配備ROSH測試模式
配備Dell的Intel雙核CPU電腦(1G內存、160G硬盤)
配備Dell 19”寬屏高清液晶顯示器
配備USB2.0 藍牙適配器
配備高檔的激光打印機
配備專用的制樣機
配備專用的測試薄膜、測試樣杯
配備專用的測試標樣一套