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容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用於實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，WindowsNT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速並簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。4200-SCS提供了很大的靈活性，其硬件選項包括開關矩陣、Keithley與Agilent C-V儀以及脈衝發生器等多種選擇。
4200-SCS為模塊化結構配置非常靈活。系統最多可支持八個源-測量單元，包括最多四個具有1A/20W能力的大功率SMU。遠端前置放大器選件4200-PA，可以有效地減少長電纜所帶來的噪聲，且使SMU擴大五個小電流量程，使其測量能力擴展到0.1fA。前置放大器模塊同系統有機地組合成一體，從使用者看來，相當于擴充了SMU的測量分辨率。
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主要特點及優點
●直觀的、點擊式Windows操作環境
●獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至0.1fA
●用於高級半導體測試的新型脈 沖與脈衝式I-V功能
●集成了示波與脈衝測量功能的新型示波卡
●內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、製圖與打印、以及測試結果的大容量存儲
●獨特 的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試並提供測試序列與循環控制功能
●內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方 式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規範的樣品測試
●支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈衝發生器等多種外圍設 備
●硬件由Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用於外接儀表控制與測試平台集成，是KITE功能的擴充
●包括驅動軟件，支持 CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針台
●支持先進的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
應用
半導體器件：
●片上參數測試
●晶圓級可靠性
●封裝器件的特性分析
●使用Model4200-SCS控制外部LCR表進行C-V、I-V特性分析
●高K柵電荷俘獲
●易受自加熱 效應影響的器件和材料的等溫測試
●電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態密度
●電阻式或電容式MEMS驅動特性分析
光電器件：
●半導體激光二極管DC/CW特性分析
●收發模塊DC/CW特性分析
●PIN和APD特性分析
科技開發：
●碳納米管特性分析
●材料研究
●電化學
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