■ 全波段光譜透過率測量，反射角分布測量
■ 全波段光譜反射率測量，反射角分布測量
■ 波長範圍:200nm-IR
■ 不同的光譜範圍可能需要不同的光學光路設計結構
■ 雙層平臺獨立旋轉，重複定位精度0.005度，分辨率0.00125度；
■ 樣品置於上層旋台，探測器置於下層旋台，樣品和探測器可以任意角度工作；
■ 台面上放置一個五維調整鏡座，可將樣品調整到旋台的旋轉中心並且垂直于台面
■ 功能擴展：測量光柵衍射效率