超聲波掃描顯微鏡SAM
| 型號： | D9500 |
|---|---|
| 品牌： | SONOSCAN |
| 原產地： | 美國 |
| 類別： | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
| 標籤︰ | 超聲掃描檢測 , 聲學顯微鏡 , SAM |
| 單價： |
¥1500000
/ 件
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| 最少訂量： | 1 件 |
產品描述
聲學掃描顯微鏡是一種非破坏性的檢測組件的完整性，內部結構和材料的內部情況的儀器，作為無損檢測分析中的一種，它可以實現在不破坏物料電氣能和保持結構完整性的前提下對物料進行檢測。被廣氾的應用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保証及可靠性(QA/REL)、研發(R&D)等領域。
其可以檢測：1.材料內部的晶格結構，雜質顆粒; 2.內部裂紋; 3.分層缺陷; 4.空洞、氣泡、空隙等等
在聲學顯微成像（AMI: Acoustic Micro Imaging）技術應用於內部品質無損檢測與分析方面，Sonoscan一直是該行業的權威之一。Sonoscan系統被視為精確基準，通過我們的SonoLab™部門，您可以向我們的聲學應用工程師進行咨詢，獲取專業意見和指導。Sonoscan致力于通過教育項目、客戶應用程序評估與新系統開發來實現AMI技術的持續改進。
對AMI技術的專業研究是Sonoscan工作的核心。我們努力提供非凡的數據精確性、出眾的圖像質量和世界領先的技術。我們在AMI技術方面還擁有多項美國和外國專利。總之，Sonoscan是您最值得信任的伙伴，我們可以為您節省成本並提高效率。
Sonoscan C-SAM D9500是一種新型AMI標準儀器，可以提供出眾的精確度和穩定性，適合破損分析、工藝開發以及材料分析與表征。
超聲波探頭頻率：5M到400M
超聲波掃描模式：A-Scan(某點掃描)、B-Scan(塊掃描)、C-Scan(層掃描)、Multi-Scan(多層掃描)、Q-BAM(虛擬橫截面)、T-Scan (穿透式掃描)、3-V(3維圖像)、Tray-Scan(盤掃描)
最大掃描範圍：12.9X12.4英吋
最大分辨率：8192X8192
選擇的聲波寬度：0.25納秒到1微秒
Z軸分辨率：80納米
會員信息
| 納科科技有限公司 | |
|---|---|
| 國家/地區︰ | 广东省深圳市 |
| 經營性質︰ | 貿易商 |
| 聯繫電話︰ | 13641443960 |
| 聯繫人︰ | 陳委清 (經理) |
| 最後上線︰ | 2021/10/19 |
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