1、根系分析儀系統可分析測量：

 1）根總長；

 2）根平均直徑；

 3）根總面積；

 4）根總體積；

 5）根尖計數；

 6）分叉計數；

 7）交疊計數；

8）根直徑等級分布參數；

9）可不等間距地自定義分段直徑，自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積 等，及其分布參數；

 10）根尖段長分布；

 11）能進行根系的顏色分析，確定出根系存活數量，輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積；

 12）能進行根系的拓扑分析，自動確定根的連接數、關係角等，可單獨自動分析主根或任意一支側根的長度和分叉數等；自動分析根系分級伸展的等級分布情況，可達到5級側根的自動分析；

 13）可單獨顯示標記根系的任意直徑段相應各參數（分檔數、檔直徑範圍任意可改）；

 14）大批量的全自動根系分析，可對各自動分析結果圖進行編輯修正；

 15）能用盒 維數法自動測根系分形維數；

 16）能進行根的分叉裁剪、合併、連接等修正，修正操作能回退，以快速獲得100%正確的結果。精度：根長≤±1%；面積：優質圖像質量時<1%，標準圖像質量時≤3%；

 17）匹配專門的雙光源照明系統，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現象的影響，有效保証圖像質量；

 18）採用非統計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等，可保存或讀取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX標準格式的圖像。

19）可兼做針葉面積、體積測量，以及棉纖維粗細、長度測量。

2、人工輔助修正：圖像可放大縮小和局部觀察，可實現鼠標區域選擇統計、對污染區的輔助裁剪或橡皮擦修正。

3、統計效果監視：監視和修正植物對象分析的精度。

4、自動雜質剔除：根據尺寸等方面的區別，進行自動雜質剔除。

5、輔助測量功能：

尺寸標定：自帶標定功能，實現半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正；

長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量；

 6、數據導出
分析圖像、分布圖、結果數據可保存，分析結果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖

LA-S型植物根系分析儀系統標配光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀，最大分析測量面積：反射稿為A4加長幅面（35.6 cm×21.6 cm），掃描根面積30 cm×20 cm，可分辨的最小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物圖像分析測量精度（由掃描儀決定，可軟件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長度測量重現性誤差<±0.25%；面積測量重現性誤差<±0.25%；台間測量差異<±0.25%。測量分析時間：30~60秒。用戶需另配計算機。

注：若需大幅面分析，請選配：光學分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9850XL plus掃描儀。

若需要對原位根系圖像進行分析，請單獨選擇萬深LA-S根系分析系統增強版（原位根系圖像分析系統）：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102434/C166872.htm
最新產品資料、圖像、實戰操作視頻可從http://www.wseen.com的網站下載。

現場培訓服務費另加（視按路途遠近而定）