菲希爾XUL(M)X-RAY膜厚儀獨一無二的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準並保証一定測量精度的情況下測量複雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析,手動XY工作台或
可編程的XY工作台手動XY工作台或
可編程的XY工作台可編程的XY工作台可編程的XY工作台測試點的放大倍率38 - 184 x20 - 180 x20 - 180 x20 - 180 x30 - 1108 xDCM方法
(距離控制測量)WinFTM?版本V.3 標準
菲希爾XUL(M)X-RAY膜厚儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾X射線膜厚儀應用於.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意，為客戶創造最大的價值是金霖始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作夥伴、共同描繪雙方的發展藍圖
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