1. OSD X射線探測器具有驚人的計數率,高達200000,比普通的 Si-Pin X射線探測器獲取數據的能力高10倍。
2. 分辨率大大地提高到了,<155keV.
3. OSD強大的獲取數據能力使儀器分析速度極快。
4. Au的檢測下限LOD高達2ppm, 對貴重金屬礦石的如Au、Pt、Ag、Ru、
Rh、Pd的分析有極佳的效果。
5. 可以測試Mg、Al、Si,具有良好的檢測下限。
6. 元素的檢測下限LOD在OSD狀態下有極大的提高,普遍提高1~15倍。
7. 在高含量的礦石分析模式MINING中增加了 BEAM2的功能,可分析Mg, Al, Si, P, S, K, Ca等元素。
8. 可選配真空選件,在真空狀態下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍
9. 可選配GIS數據採集手簿TRIMBLE,數據與GPS實現綁,可將儀器測試點的礦化信息通過藍牙傳到TRIMBLE上,再與TRIMBLE上自動產生的經度、緯度、海拔進行連接,實現測試信息與GPS同步處理。