XRF螢光測厚儀、菲希爾膜厚儀測量貴金屬更靈敏。標準配備有WindowsXP中文操作界面。採用最新數學FP法，採用激光自動對焦，並配備有Z軸防衝撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損坏。XRF螢光測厚儀、菲希爾膜厚儀配備微焦距XRAY管，四個電動移動准值器，尺寸為圓形直徑0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，還有三個基本濾片選用，使光譜圈更合適分析，基本操作軟件WINFTM V6 LIGHT，可以同時間測量多至層鍍層、或進行多至5元素的合金分析、又或是最多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。XRF螢光測厚儀、菲希爾膜厚儀採用最新數學FP法，採用激光自動對焦，並配備有Z軸防衝撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損坏。XRF螢光測厚儀、菲希爾膜厚儀可適用於各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等可適用於各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等 。期待您的聯繫：金霖電子華南地區代理 吳小姐 手機：13603036715   TEL：29371651 FAX：29371653 QQ：1351791466  郵箱：www.kinglin5158@163.com   地址：寶安中心區宏發中心大廈