金屬膜厚測試儀一款可靠的採用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。  它的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰。金屬膜厚測試儀採用創新技術，目前正在申請專利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到几?reg;微米的結構上進行測量，能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。金屬膜厚測試儀測試方向由下向上照射的設計是只需要對準量位置，而不需要調校焦距便可以進行測量，並且由下向上的照射，極適合對一些較小的樣板進行測量，尤其是對手錶、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產品中的小五金零件等等，操作員只需將測試面朝下，不論大小的樣品可直接放進測量室內，不用調距離，只需對準位置，便可立即測量。你的需求，便是我們的追求，期待您的來電，金霖電子 吳小姐 手機：13603036715   TEL：29371651 FAX：29371653 QQ：1351791466  郵箱：www.kinglin5158@163.com   地址：寶安中心區宏發中心大廈