BC3193 半導體分立器件測試系統
系統用途
BC3193半導體分立器件測試系統是半導體參數測試的專用設備,用於半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門進行入廠檢驗、可靠性分析測試
系統特點
◆ PC機為系統的主控機
◆ 菜單式測試程序編輯軟件操作簡便
◆ 預先連接測試自動識別NPN/PNP
◆ 0～±2000V程控高壓源
◆ 高達±1000A程控高流源
(外接高流台可擴充到±1000A)
◆ 測試漏流最小分辨率達6.1pA
◆ 四線開爾文連接保証加載測量的準確
◆ 通過IEEE488接口連接校準數字表傳遞國家 計量標準對系統進行校驗
◆ Prober接口、Handler接口可選（16Bin）
◆ 可為用戶提供豐富的測試適配器
測試對象
二極管/穩壓管/恆流二極管/整流橋/瞬態抑制管： BVR、IR、VF、VZ、RZ
三極管： BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅： BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、
IH、IL、VGT、VON
場效應管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP
IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)
達林頓矩陣：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
單結晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
光敏二、三極管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE
光耦（輸出類型：二極管、三極管、可控硅、MOSFET）： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR （加時間測量選件Tr、Tf、Toff、Ton）
固態繼電器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von
硬件基本配置
主控計算機一台：Windows操作系統、PCI插槽1個以上；
計算機PCI接口板(CPUINT)一塊；系統接口板(SYSINT)一塊(含GPIB接口)；
數據採集板(VM)一塊；
40A/30V程控電流電壓源(VIS)二塊；
±2000V程控電壓源(HVS)一塊；
電流/電壓轉換板(IVC）一塊；
電源控制板(PWC)一塊；
測試台矩陣板(STATION)一塊；
自檢模板2個；
測試適配器4個（二極管、TO-92、TO-3、TO-220）