主要特點:
操作極其簡便,用戶控制,模塊化構造
多用掃描 測量頭, 就極高的穩定性作了優化
多測量模式選擇: 接觸模式,非接觸模式,震盪接觸模式,力調製顯微鏡,摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡,力譜儀,相位對比度。
使用同一個測量頭可達到的掃描範圍從納米級到面積為 200 µm x 200µm
包括化學對比度成像 (CCI-AFM) 模式
包括保護氣體選項
可直接在樣品實地的溫度和濕度條件下測量
包括可在液體中測量的工作方式
極有用途的附加模塊包括:納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測 (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構造 (LithoScan)
可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊
根據特殊要求可提供應用實例
技術數據:
試樣尺寸: 25 mm x 25 mm
調節距離: 在x,y方向可達20 mm x 20 mm
步進電機: z方向可達15 mm
環境條件: 普通環境條件常規運行(接觸空氣,室溫);此外也可在保護氣體和液體中工作
掃 描 儀: x, y,z方向壓電掃描。 掃描範圍x, y方向可達 200mm
分 辨 率: 可達原子尺度
步進電機: 15 mm行程
入 口: 從上方和側向有直接光學入口
電子元件: 數字控制器,PC機經USB接口驅動
軟 件: 用戶友好的測量和分析軟件包
數據採集: 並行採集顯示多個測量通道(例如 表面形貌和化學對比度)
數據分析: 功能全面的圖像處理和數據分析軟件(包含統計函數、粗糙度分析等等)
校 准:供貨範圍包含校準模板