簡單描述

高亮度背景光源，適用於高速檢測配套的背景照明，均勻性高，完美呈現被檢測對象物的輪廓缺陷等 

典型應用                                        

 Ø         檢測小型電子元件的尺寸和外形

 Ø         電子元件的外部檢測

 Ø         半導體引線框的外觀和尺寸檢測

 Ø         檢測透明膜上的污點、文字等

 Ø         不同物體的輪廓檢測

 Ø         液晶文字的檢測