XJZ400/400T可用於金相、礦物、晶體、IC、LCD、LED、PCB、FPC、微電子等方面進行觀察與分析研究等，是工廠、高等院校、科研機構及電子工業首選，採用了反射和透射兩種照明方式，並配備落射偏光裝置，穩定、高品質的光學系統可以滿足對高要求的成像質量。
主要配置：目鏡：10X/22mm  三目觀察主體 長工作距離無限遠物鏡：4X  10X   20X   40X   偏光裝置
報像系統  測量軟件 可以選配80X　100X物鏡