美國優特UTX720B系列膜厚儀是一款可靠的採用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。
美國優特UTX720B系列膜厚儀的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰。這種創新技術的，目前正在申請專利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到几?reg;微米的結構上進行測量。
在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。美國優特UTX720B系列膜厚儀可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由於X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。
具有強大功能的X-射線UTX720B系列膜厚儀可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的有友請來電咨詢希望我們能成為長期的合作夥伴。
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