高分辨率波前分析儀
| 型號： | 350-1100nm |
|---|---|
| 品牌： | 法國PV公司 |
| 原產地： | 法國 |
| 類別： | 工業設備 / 電子電氣產品製造設備 |
| 標籤︰ | 波前分析儀 , 高分辨率儀 |
| 單價： |
¥1
/ 件
|
| 最少訂量： | 1 件 |
產品描述
昊量光電提供的高分辨率波前分析儀是一款靈巧的、具有高性價比的光學設備，能夠提供目前波前分析領域最高的分辨率與良好的動態範圍。 不同于傳統的模擬波前傳感器，高分辨率波前測量儀整合了最新的高分辨率波前傳感器。我們提供的配套波前分析軟件能夠很快從任何高分辨率波前相機採集數據，進行波前獲得、測量和分析等工作，是從自動獲取到波前展示、分析和報告的有效工具，並提供2D和3D等多種界面。
一台高分辨率波前分析儀=功率計+光束質量分析儀+波前測量儀+干涉測量儀！
產品特點
- 高空間分辨率，可測量的像素點數量僅受限於CCD分辨率
- 低級次與高級次畸變的精確波前圖像
- 實時測量+位相和強度同時測量
- 光束質量因子M2一次性測量，無需額外附件，無需移動部件
- 動態範圍寬，可達1500λ
- 適用波長範圍寬，涵蓋紫外、可見光、近紅外、中遠紅外等波段
- 結構緊湊、使用輕便、性價比高
典型應用
-
光束質量分析
-
光學器件檢測
-
眼科學
-
生物成像
-
物體表面檢測
硬件指標
|
波長範圍 |
350-1100nm |
|
分辨率 |
500x500 |
|
有效孔徑 |
5.4mm x 4mm |
|
靈敏度 |
0.01λ |
|
動態範圍 |
1500λ |
可根據客戶需要，定製更高分辨率的器件以及適用於紫外波段、近紅外與遠紅外的器件
軟件功能
|
GetLase M2 |
|
|
可測量的光束強度參數： l 所採集圖像的強度最大值 l 採集平面上的光斑長軸尺寸 l 採集平面上的光斑短軸尺寸 l 光斑圓度 l 橢圓長軸相對於三角基準的定位 |
可測量的光束傳輸參數： l X、Y方向光束質量因子M2 l X、Y方向4 sigma 束腰大小 l 測量平面與束腰平面的距離 l 瑞利長度 l 光束髮散角 |
|
GetLase WM |
|
|
二維與三維圖像展示波前分布 |
澤爾尼克（Zer ）係數顯示 l 澤爾尼克係數值 l 澤爾尼克係數直方圖 |
|
GetWave |
|
|
n 二維與三維波前圖像顯示 n 二維與三維強度圖像顯示 n 沿任意切麵的波前與強度分布 |
澤爾尼克（Zer ）係數實時顯示： l 澤爾尼克係數值 l 澤爾尼克係數直方圖 l 澤爾尼克係數重構 |
|
n MTF, PSF, 斯太爾率 n 斜率、焦點、象差、彗差、球差分析 n 精確LOAs&HOAs測量 |
n 來自參考測量的殘差波前 n 來自最佳擬合的殘差波前
|
幾種不同的波前分析儀之比較
|
傳感器技術 |
傳感器類型 |
優點 |
缺點 |
|
Anologue |
Sharck-Hartmann Sensor (SHS) |
l 較寬的波長範圍 l 高靈敏度 l 對振動不敏感 |
l 分辨率較低 l 動態範圍有限 l 需要精確校準 l 靈敏度與動態範圍的對應關係缺乏靈活性 |
|
Lateral Shearing Interferometer (LSI) |
l 具有SHS更高的分辨率 l 靈敏度與動態範圍的對應關係具有靈活性 l 波前誤差控制 |
l 比SHS硬件構成更複雜 |
|
|
Curvature Wavefront Sensor (CWS) |
l 比SHS或LSI具有更高的分辨率 |
l 比SHS與LSI具有更複雜的硬件構成 l 適用波長受限 l 帶寬受限 |
|
|
Digital |
Digital Wavefront Camera (DWC) |
l 分辨率最高 l 無特殊硬件 l 波長範圍不授限制 l 性價比最高 |
l 軟件計算比較複雜 |
普通波前分析儀波前測試圖像 高分辨率波前分析儀波前測試圖像
會員信息
| 上海昊量光電設備有限公司 | |
|---|---|
| 國家/地區︰ | 上海市徐汇区 |
| 經營性質︰ | 生產商 |
| 聯繫電話︰ | 13761570395 |
| 聯繫人︰ | 吳晉龍 (銷售經理) |
| 最後上線︰ | 2011/07/29 |
