產品應用：配備手動或可編程位置的X-Ray螢光光譜鍍層厚度測量儀，適合於裝飾性小五金鍍層、大量小零件及電路板中的非破壞厚度測量。

產品介紹：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系63900;是十分簡63968;操作的桌面式測63870;儀器，因應63847;同的測63870;需要，有63847;同的型號可供選擇，分別是在於63847;同的操控的X-Y測63870;桌及Z軸﹝測63870;頭的上下移動﹞是固定或是可調節的。
XDL 210: 固定的X/Y桌及固定 Z-軸
XDL 220: 固定的X/Y桌及電動的Z-軸
XDL 230: 手動操控的X/Y 桌及電動的Z-軸
XDL 240: 電動的X/Y 桌可以在測63870;門打開時變速移動X/Y 桌出63789;給操作員放置樣品及關閉測63870;門時移動X/Y 桌變速返回到測63870;位置。
高解像彩色攝影機配合強大的放大倍63849;功能使樣品的對位十分容63968;及在測63870;中也可以監視測63870;的位置。如型號配備63930;可編測63870;位置的儀器63745;有63817;射對位裝置63789;63745;快速及準確對準樣品的位置測63870;。
開槽式的測63870;室設計，這可使大塊及平坦的樣品，比測63870;室還大的，63925;如：電63799;板，也可以測63870;。
在整體操作上，在簡63968;操作及強大功能的電腦WinFTM®軟件下，所有的測63870;63849;據的統計可以十分清楚地表達出63789;。
XDL系63900;的光譜的儀器，符合德國的出口規定 8222;Deutsche Röntgenverordnung-RöV“

通常應用的程式包括：
1、 測63870;大63870;的電鍍五63754;件。
2、 檢查薄膜層，63925;如：裝飾性鉻的鍍層。
3、 在電子及半導體64008;業中分析其功能性的鍍層。
4、 自動測63870;，63925;如：用於電63799;板64008;業。
5、 電鍍槽中的藥水成份分析