SR-750是一款基於典型的Czerny-Turner光路結構的高分辨率光譜儀。結合創新型的光學器件設計，SR-750配合Andor公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時採集與測量。

      SR-750可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供最佳的系統解決方案。

       SR-750的主要技術指標：

焦距長度	750mm
通光孔徑	f/9.8
焦平面尺寸	28mmX14mm
光譜分辨率	0.03nm
波長重複性	±0.05nm
光柵尺寸	68mmX68mm
光譜儀外觀尺寸	860mmX393mmX213.5mm