1. 環形光源具有照明中心區亮度高、無陰影等特點。可根據待檢產品的檢測特征選擇不同的照射角度和顏色組合

 

2. 條形光源適用於大範圍的方形結構被測物體的外觀檢測和尺寸測量，具有自由調整照射高度、照射面積和照射角度等特點。可根據檢測要求自由組合不同顏色。

 

3. 四面可調光源是在被測物上方四邊獨立對稱配置條形光，根據被檢測物體的要求調整所需要的照明角度和亮度，以獲得最佳的照明效果。與環形光源相比，更適合於具有不對稱檢測要求的環形和方形產品

 

4. 線光源採用柱面透鏡聚光，具有超高亮度，是線陣相機專用光源，適用於印刷、紡織行業等流水線連續檢測場合。

 

5. 圓頂式無影光源採用獨特的反射結構，實現均勻的擴散照明，使得整幅圖像的亮度分布十分均勻。適合於曲面、表面凹凸及反光較強產品的檢測。

 

6. 面光源安裝了高密度LED陣列，實現均勻及高亮照明。檢測產品時，以高亮背景獲取高清晰度輪廓，適合多樣化的外觀檢測。

 

7. 平面無影光源採用特殊結構的導光板改變LED照射光路，實現照射無影效果，具有反光小、照射均勻、結構緊湊等特點。適用於面積大，反光強且均勻性要求高的產品檢測。

 

8. 同軸平行光源採用特殊光學鏡組，實現光線平行、垂直且均勻地照射于產品表面，清晰突出平整表面的凹凸缺陷。適用於金屬、玻璃、膠片、晶片等平整表面的划傷檢測。

 

9. 同軸光源採用分光鏡設計，LED的光線通過半透鏡面后成為與鏡頭同軸的光線，採用特殊材料抑制反光的半透鏡面來消除圖像中的重影，提高成像清晰度。適用於反射率高的被測物的划痕、印字等的檢測.

 

10. 點光源採用獨特的聚光設計，實現高亮均勻照射。配合遠心鏡頭做同軸光源使用，常用於芯片檢測，晶片、Mark點定位等應用領域。

 

11. AOI光源提供三色光不同角度的照射以獲取焊錫的三維信息