Bartington,DAS1,磁力儀數據採集系統
產品介紹:

 

    DAS1陣列磁力儀數據採集系統

  DAS1 是多功能、多探頭的數據採集系統，由模擬調製器，A—D轉換器和配套的PC組成。它能對多種探頭采樣、記錄、處理和顯示，功能自成一體。

典型的應用包括磁特征分析。DAS1支持巴廷頓儀器的Mag-03三軸磁場探頭，Mag-03RC海洋探頭以及深度、壓力和聲音探頭，使得它對陸地和海洋的探頭陣列都很適用。系統還適用於需要從大量探頭中記錄數據的應用，例如在地球物理方面的電磁勘探（EM）研究。

該系統安裝在便攜的19英吋機架式機箱，包含一個PXI-主板和PC以及A-D轉換模塊，還有巴廷頓儀器可編程的DECAPORT模擬接口模塊。標準機架包含1個或者2個DECAPORT，但較大的機架可最多容納7個DECAPORT，能夠最多支持70個三軸磁場探頭。

基於PC處理的DAS1為軟件設計者提供了相當大的靈活性。預編譯的LabVIEW®應用程序，可以快速實施該工作系統。當需要更複雜的軟件時，可以通過提供的LabVIEW®擴展應用程序，或者使用替換的軟件開發平台來實現。

 

 

DECAPORT 模擬接口模塊

每一個DECAPORT 模擬接口模塊有三十個輸入通道，最多可以把10個Mag-03三軸探頭連接到PXI數據採集單元上。

DECAPORT主要用於支持Mag-03 （包括Mag-03RC）磁場探頭。但其集成的可編程的特點使它支持更多種類的探頭（例如，深度，壓力，E場）。它還可通過軟件配置探頭的單端或差分輸出，防歧變濾波，頻率響應和探頭供電電壓。

在配套Mag-03使用時，DECAPORT可給探頭供電。

 

主要特點 

· 可最多可使用10個Mag-03系列三軸探頭

· 可編程選擇差分或者單端模擬探頭輸入

· 單端模擬輸出到PXI單元

· 監控探頭供電電壓，電流和漏電

· 主動式磁力儀檢測功能（在磁力儀上有此功能時）

· 對探頭輸入進行全面的ESD過流保護

· 標準的19英吋機架式安裝

· 公線電壓供電（100V-240V AC，IEC連接器）

· 前面板-標配Mag-03廣瀨式（Hirose RM15TRD10P） 輸入連接器

· 後面板-68路Harting 6001 068 5232 輸出連接器

· 可用最長達1千米的探頭電纜操作（取決于探頭）

 

兼容探頭：所有巴廷頓儀器的Mag-03和Mag-03RC三軸磁場探頭都可連到DECAPORT上，請聯繫巴廷頓儀器咨詢其它種類探頭的連接可能。

 

 

PXI數據採集單元

PXI數據採集單元是基於PC的，防震和模塊化設計的可編程的系統，能滿足典型配置的磁力儀陣列信號分析所要求的數模轉換和大多數的數據處理要求。

基於主板的插拔式設計使其在系統配置方面有很強的靈活性。PXI數據採集器由單板計算機和7個A-D轉換板的擴展槽組成。基座包含一個高性能的PXI背板，上麵包括PCI總線和定時觸發總線。

單板計算機使用2GHz處理器，在Windows XP®環境下運行，支持LabVIEW®圖形數據採集和開發軟件。前面板插口用於監視器，USB鍵盤和鼠標。

每個A-D轉換板有30個輸入通道，最多支持10個三軸探頭（通過一個DECAPORT單元）。一個全插入的主板能夠處理從70個三軸探頭採集的數據。數據采樣率取決于應用軟件，但是PXI數據採集器硬件可在18位分辨率情況下以最高15.6kHz的速率對所有通道采樣。

 

  軟件

DAS1提供預裝的Window XP®和一套DAS1基於LabVIEW®的啟動應用程序。這使得用戶能快速配置DAS1以監控從連接的探頭採集的信號，以及設置系統，令其正常工作。

啟動軟件不是設計用於支持全部磁場探頭陣列工作的。還可提供更全面的LabVIEW®模塊集合，用於執行基本的數據記錄和分析功能。如果需要更複雜的處理，這些模塊可以形成用戶設計的LabVIEW®應用程序基礎。由於對每個單獨陣列實施要求的軟件各有變化，請聯繫巴廷頓儀器以討論可提供的選配軟件。

 

 

電纜

每套系統都可提供用於連接探頭到DECAPORT的陸地或海洋配套電纜（最長可達1km，取決于探頭）。提供DECAPORT與PXI數據採集單元的連接電纜，標準配置是1米。

 

技術規格

DAS1（完整系統）

 

 

 

 

 

技術規格

PXI 數據採集單元

 

 

 

 

采樣速率補償

由NI模擬到數字轉換器，可以採取組合輸入選項，對32通道18位分辨率時，采樣速率為每秒500K樣。每個通道的實際采樣率由轉換器的采樣速率和被記錄的通道數確定。采樣速率的定義公式為：

S=ADC采樣率/（磁力儀數目×每個磁力儀的通道數）

 

根據Nyquist采樣準則，最大頻率響應/帶寬取決于每個通道的采樣率，即，Fmax=S/2

因此，

Fmax= ADC采樣率/2 ×（磁力儀數目×每個磁力儀的通道數）

 

過采樣

過采樣S0可用於增加分辨率，公式為：S0=4N ，其中N為以二進制數據的額外位表示的分辨率的增加量，S0為過采樣因子。

因此，要想使分辨率達到24位，采樣率要提高到4096。