BOWMAN（博曼）X射线半导体膜厚仪此仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。Bowman博曼膜厚仪无数次的专利发明,包括使用DCM 自动对焦方法和透明的准值器，操作简单。不用调校.
X-射线管的距离也可测量，操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。
BOWMAN（博曼）X射线膜厚仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
BOWMAN（博曼）X射线半导体膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.
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