拍照式三维扫描仪

型号：	XTOM
品牌：	西博
原产地：	中国
类别：	电子、电力 / 仪器、仪表 / 光学透镜和仪器
标签︰	三维扫描仪 , 拍照式三维扫描仪 , 白光三维扫描仪
单价：	¥200000 / 件
最少订量：	1 件

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产品描述

XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从30毫米到1米）、测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。

系统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成。

技术指标

指标名称	技术指标
核心技术	双目立体视觉、多频外差相移
扫描方式	非接触式三维白光面扫描方式
※测量幅面	支持30毫米到1米的测量幅面，根据需求可实现多种测量幅面：32mm×24mm、64mm×48mm、128mm×96mm、200mm×150mm、400mm×300mm、800mm×600mm等。
测量相机	支持一百万到四百万像素相机，支持千兆网、USB2.0、USB3.0等多种接口的相机
※相机标定	支持多测头同时标定，支持外部图像标定
单幅扫描精度	0.008-0.05mm
测量点云间距	0.05-0.5mm
单次扫描时间	2-4s
测量结果格式	点云（ASC，PLY，WRL），三角形网格（STL），纹理贴图（OBJ）
※拼接方式	支持基于标志点和基于被测物特征的两种全自动拼接方式
※全局拼接	支持导入摄影测量系统计算的全局点进行测量，提高测量精度
※选区扫描	支持手动选择区域进行扫描，提高扫描速度和后期处理效率
※纹理扫描	在扫描物体三维形状的同时还可以扫描得到并输出纹理信息
※点云后处理	具备点云优化降噪、点云融合（重叠面删除）、点云补洞、三角化等自动后处理功能
※分析报告功能	具备点云测距、多种坐标变换、元素拟合、各种角度及尺寸分析功能
系统兼容性	兼容32位、64位系统