online内应力双折射测量仪KAMAKIRI W

型号：	KAMAKIRI W
品牌：	Photonic Lattice
原产地：	日本
类别：	电子、电力 / 仪器、仪表 / 分析仪器
标签︰	双折射测量系统 , 内应力测量 , 相位差测量
单价：	-
最少订量：	1 件

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产品描述

Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。

主要特点：

适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量
LIVE实时输出双折射的信息
OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报
操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布
实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。
可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。

应用领域：

相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃

技术参数:

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】

2	测量波长	520nm

3	双折射测量范围	0-130nm/0-260nm(选配)

4	主轴方位范围	0-180°

5	测量重复精度	<1nm（西格玛）

6	测量宽度尺寸	350mm

7	宽度方向测量点	2560