UTECHZONE由田 Wafer的 AOI检测
| 型号： | WIM 300 |
|---|---|
| 品牌： | UTECHZONE由田 |
| 原产地： | 日本 |
| 类别： | 电子、电力 / 其它电力、电子 |
| 标签︰ | AOI检测 , 晶圆检测 , 自动 |
| 单价： |
-
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| 最少订量： | 1 件 |
产品描述
敝司代理UTECHZONE由田的晶圆检测设备。用于Wafer的缺陷检测。
产品特性：
1、高解析度CCD结合多角度灯光模组，有效检出缺陷
2、可检 Bare Wafer 、Pattern Wafer 、 Glass Wafer 、 Framed wafer
3、用于RDL宽度/高度、Bump宽度/高度、UBM深度…等检测项目
会员信息
| 深圳东荣兴业电子有限公司 | |
|---|---|
| 国家/地区︰ | 广东省深圳市 |
| 经营性质︰ | 贸易商 |
| 联系电话︰ | 18625217980 |
| 联系人︰ | 纪纤尘 (工程师) |
| 最后上线︰ | 2021/06/03 |
