美国UTX优特650B膜厚仪高精度测量的高功率镀层测量仪，合适微小样品的膜厚测量与熔液分析的高精度X射线荧光镀层厚度测量仪,测量出范围从元素氯（Z＝13）至铀（Z ＝92）。主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描（指定面积），如：硬盘镀层、细微的线。有极高精度，可编程的XYZ测量台及大移动范围，测量室为长方形内槽设计，容许放入大面积的物件进行测量.优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。

 元素含量
 分析指标  分析范围：100PPM-99.99%  准确度：相对误差5%以内
 精密度：相对标准差5%以内     检出限：100PPM   测试时间  镀层测厚：10-100秒
元素分析：60-300秒 
 X光管   50W(4-50KV  0 -1.0mA)标配  样品台  简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单
 探测器  正比计数器  测试软件  基本参数法
 滤光器  二次滤光  重量   100千克 
 准直器  Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm /
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators  Options  软件  镀层测厚软件，元素分析软件
 样品观察  CCD高精度彩色摄像头  配套  标准液体测量杯
 对焦系统  镭射对焦  稳压系统  UPS稳压电源
 测量方向  从上向下  电脑  联想电脑
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