UTX优特750膜厚测试仪·完美的检测性能指标

·多种准直器和滤光机制可供选择

·简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单

·人性化软件界面设计，易学易懂，更方便人员操作

·探测器采用先进的电制冷方式，无需液氮制冷，增加安全性

元素含量
 分析指标  分析范围：1PPM-99.99%  准确度：相对误差5%以内
 精密度：相对标准差5%以内 检出限：1PPM    测试软件  基本参数法
 X光管  50W(4-50KV  0 -1.0mA)标配  对焦系统  镭射对焦
 探测器  硅锂半导体探测器  测量方向  从上向下
 滤光器  一次滤光  样品台  简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单
 
 准直器  Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、1mm、Ф0.5mm、
Ф0.2mm、Ф0.1mm，multi- collimators  Options  可测元素  k到U
 定性功能  自动标示存在元素  定量功能  出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样
 样品观察  CCD高精度彩色摄像头  测试时间  60-300秒
有需要的朋友请联系
 联系电话：0755-23065511
传真：0755-23065811
邮箱：pt_king@126.com
刘生  13603020885
深圳宝安区西乡宝安大道宝和大厦1105室