无接触少子寿命测试仪-产品特点

■ 无接触和无损伤测量
■ 可移动扫描头，便于测量
■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等
■ 性价比高，极大程度地降低了企业的测试成本 
■ 质保期：1年