產品簡介：

     P3型全自動粗糙度測量儀是一款非接觸式粗糙度測量儀，採用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，符合國際標準ISO25178，用於取代傳統的接觸式探針型粗糙度測量儀。測量範圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、塗層、塗料、漆、紙、皮膚、頭髮、牙齒等任意樣品，不收材料形狀及顏色的限制。

產品特性:

1.    測量具有非破坏性：採用白光共聚焦技術，可獲得納米級分辨率

2.    測量範圍大：15mm×15mm，無需進行圖像拼接

3.    可測樣品的最大坡度：87oC

4.    測量範圍廣：可測平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、拋光、粗糙樣品

5.    不受環境光的影響

6.    不受樣品反射率與形狀的影響

7.    操作簡單：樣品無需特殊處理優于傳統的探針技術與干涉技術形貌儀

主要技術參數：

1，掃描範圍：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm）

2， 掃描步長：1×1，2×2，5×5（μm）

3，Z方向測量範圍：300μm

4，Z方向測量分辨率：8nm

5，Z方向測量精度：60nm

6，橫向光學分辨率：2.6μm

產品應用：

MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫療工程、製藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發

聯繫人:劉蕊             聯繫方式：010-53203403     

       13933947304

15652958313

網址：www.mnt-china.cn     微納（香港）科技有限公司