1，儀器簡介：

美國NANOVEA公司的納米壓痕儀主要用於測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用於研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用於有機或無機、軟質或硬質材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質或硬質材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物和有機材料等。
2，技術參數：

載荷範圍：0-400mN 
載荷分辨率：30nN 
最大壓入深度：250um 
位移分辨率： 0.003nm
3，主要特點：

帶有反饋系統的載荷加載系統 

靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣

高質量光學顯微鏡觀測系統 

計算機軟件包，自動進行數據獲取、儲存、分析等 豐富、靈活的擴展空間
4，選件：
其它力學測試模塊（如微納米划痕、微納米摩擦磨損儀，納米划痕等） 

環境(溫度、濕度）控制 
原子力顯微鏡成像系統

三維表面形貌儀掃描系統 
環境隔離罩 

5，公司簡介：

美國NANOVEA儀器公司二十年來致力于為全球材料、物理、機械工作者提供先進、精準、全面的材料機械性質測試儀器、分析咨詢以及測試服務。我們的主要產品包括： 
測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級壓痕測試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）； 
界定膜基結合強度、薄膜抗划擦能力的納米級、微米級、大載荷划痕測試儀 (Scratch tester) ； 包括高溫以及線性往復運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ； 高端膜厚測試儀； 用於三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦三維表面形貌儀 。

關鍵詞：納米壓痕儀，微米壓痕儀，納米划痕儀，微米划痕儀，納米摩擦磨損測試儀，微米摩擦磨損測試儀，納米力學測試系統，微納米力學測試系統

型號：NMT

聯繫人：劉蕊                  聯繫方式：010-53203403

                                         13933947304

                                         15652958313

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