型號：

IDP6300

測試對像：

粉末、固體、液體

元素分析範圍：

鈉（Na）－鈾（U）

同時最多可測元素：

36種

含量分析範圍：

1ppm～99.99%

工作穩定性：

總熒光強度為0.1％

測試時間：

60～200秒

探測器分辨率：

127eV±5

多道分析器：

2048道

X射線光管：

功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo

高壓電源：

電壓範圍0~50KV，穩定度每小時小於0.05%

最低檢出限：

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

鍍層技術參數：

可測鍍層數：

最多可達5層

鍍層種類：

單金屬鍍層、合金鍍層

鍍層識別精度：

分析檢出限可達2ppm，最薄可測試0.005μm。

厚度測試範圍：

輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um

中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um

重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

配置

數量

單位

儀器主機部分主要配置

1

套

1. SDD探測器

1

套

2.低功率X光管

1

個

3. 高壓電源

1

個

4. 2048道數字多道分析器

1

套

5. 高精密CCD

1

個

6. 濾光片組

5

組

7. 准直器：8種准直器自動切換

6

個

儀器外圍配置

1. 計算機：

品牌電腦一台，配19寸液晶

1

套

2. HP彩色噴墨打印機

1

台

3. 銀校正片

1

片

4. 塑料標準樣品: EC681K

1

袋

5. 樣品杯、麥拉膜

若干

軟件配置（選配）

RoHS/無鹵檢測專用軟件

1

套

金屬鍍層測厚分析軟件

1

套