型號: | DP7300 |
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品牌: | 德譜 |
原產地: | 中國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | ROHS儀器 , X射線光譜儀 , X熒光光譜儀 |
單價: |
¥280
/ 件
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最少訂量: | 1 件 |
一、技術指標
型號: |
IDP-7300 |
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測試對像: |
粉末、固體、液體 |
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元素分析範圍: |
鈉(Na)-鈾(U) |
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同時最多可測元素: |
36種 |
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含量分析範圍: |
1ppm~99.99% |
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工作穩定性: |
總熒光強度為0.1% |
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測試時間: |
60~200秒 |
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探測器分辨率: |
127eV±5 |
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多道分析器: |
4096道 |
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進口高端DSP數字信號處理芯片 |
64位處理 |
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X射線光管: |
功率50W,靶材可選Ag、Rh、W、Mo |
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高壓電源: |
電壓範圍0~50KV,穩定度每小時小於0.05% |
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最低檢出限: |
Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm |
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探測系統: |
全自動對點探測系統鼠標點擊,自動對點 |
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昇降軟件系統: |
電控全自動機蓋昇降軟件獨立控制 |
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外型尺寸: |
720mm×560mm×450mm(不包括支腳) |
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測量倉: |
400mm×280mm×100mm |
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重量: |
70Kg |
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鍍層技術參數: |
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可測鍍層數: |
最多可達5層 |
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鍍層種類: |
單金屬鍍層、合金鍍層 |
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鍍層識別精度: |
分析檢出限可達2ppm,最薄可測試0.005μm。 |
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厚度測試範圍: |
輕金屬(如:Ti、Cr等)0.01~50um 中金屬(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um 重金屬(如:Pt、Au、Pb等)0.005~15um |
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標準配置
配置 |
數量 |
單位 |
儀器主機部分主要配置 |
1 |
套 |
1. SDD硅漂移探測器(進口)AMPTEK |
1 |
套 |
2.低功率X光管 |
1 |
個 |
3. 高壓電源 |
1 |
個 |
4. 2048道數字多道分析器 |
1 |
套 |
5. 高精密CCD |
1 |
個 |
6. 濾光片組 |
5 |
組 |
7. 准直器:8種准直器自動切換 |
6 |
個 |
儀器外圍配置 |
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|
聯想商務一體機 |
1 |
套 |
2. HP彩色噴墨打印機 |
1 |
台 |
3. 銀校正片 |
1 |
片 |
4. 塑料標準樣品: EC681K |
1 |
袋 |
5. 樣品杯、麥拉膜 |
若干 |
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軟件配置(選配) |
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RoHS/無鹵檢測 |
1 |
套 |
深圳德譜儀器有限公司 | |
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國家/地區︰ | 广东省深圳市 |
經營性質︰ | 生產商 |
聯繫電話︰ | 18688929727 |
聯繫人︰ | 劉夢涵 (業務經理) |
最後上線︰ | 2015/10/10 |