原子力顯微鏡是一種用來研究材料表面結構的分析儀器。它通過待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質，從而在掃描樣品時獲得樣品表面納形態的納米級結構信息及粗糙度信息。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡可以提供全面的原子力顯微功能，包含所有常規成像模式，獨有的三軸獨立閉環掃描器能獲得既具有高分辨率又僅有低噪音的高質量圖像。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡擴展功能強大，可以與多種模塊結合，完成納米級的紅外光譜分析、紅外吸收光譜成像、熱分析、力學頻譜分析等功能。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡安裝簡單，操作方便，預裝懸臂使原子力探針安裝一步到位，強大的光學顯微鏡和直觀的軟件使用戶非常方便的獲取樣品表面圖像信息。

主要參數：

平面掃描範圍：<80x80um

平面分辨率：<0.2nm

縱向掃描範圍：>6um

縱向分辨率：<0.2nm

載物台：7mmx9mm，馬達自動控制

工作模式：接觸模式、非接觸模式、敲擊模式

光學分辨率：1.5um

光學顯微鏡最大可視場： ～900x600um

應用：

生物研究，生物細胞表面形態觀察

晶體生長機理研究

金屬及半導體表面形態、表面重構、表面電子態研究

現場電化學研究