Nikon外觀檢查顯微鏡

產品描述

◎	開發背景:因應電子半導體, IC-PACKAGE, 封裝FPD (TFT, STN, LED, OLED)光電業, 電子部品, PCB, 材料, 金相組織等產業。
◎	專用於金屬表面觀察與照相
◎	多種鏡筒選擇 , 雙眼與三眼。並可調整仰角 (8° -32° )
◎	beam splitter 分光設計 , 可同時連接照相系統與 CCD camera 、 TV 系統
◎	Nikon 最新 CFI60/ICOS 高解像力光學系統設計
◎	摺疊式鏡筒 , 調整瞳孔距離時 , 共焦不變
◎	採用消色差、消球面差之超低散射高級光學鏡片
◎	高對焦精度 1um 及共焦性
◎	可選擇標準鏡筒 ( 視野數 22) 與超廣角鏡筒 ( 視野數 25)
◎	可選擇全新 CFI60/ICOS 明視野與干涉相位差鏡頭
◎	高精度測微器最小讀取值 0.1um
◎	可加裝 Nikon 數位相機
◎	具底部光源機型 LV100D 可供選擇 ‧ 標準光源為 12V50W 鹵素燈源
◎	具光源及焦聚 Luck 功能