XRF2000,2020,鍍層測厚儀膜厚光學儀器，X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分，可用於材料的塗層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。

銅上鍍銀測厚儀XRF-2020膜厚儀

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

儀器功能

全自動台面
自動雷射對焦
多點自動測量

XRF-2000鍍層測厚儀

XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優越,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破坏性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品台，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品台，可測量較大的產品。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

可測元素範圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統計功能