CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀
  各種尺寸的樣品；並且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米

  CMI900系列採用開槽式樣品室，以方便對大麵積線路板
  樣品的測量。它可提供五種規格的樣品台供用戶選用，
  分別為：

標準樣品台：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
擴展型標準樣品台：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
可調高度型標準樣品台：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
程控樣品台：XYZ軸自動控制。
超寬程控樣品台：XYZ軸自動控制。
   CMI950系列採用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種
  規格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規格
  的樣品台供用戶選用，分別為：

全程控樣品台：XYZ 三軸程序控制樣品台，可接納的樣
品最大高度為150mm，XY 軸程控移動範圍為300mm x 300mm。此樣品台可實現測定點自動編程控制。
Z軸程控樣品台：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納
的樣品最大高度為270mm。全手動樣品台：XYZ三軸手動
控制，可接納的樣品最大高度為356mm。
   可擴展式樣品台用於接納超大尺寸樣品。
  

  CMI 900/950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大
  的材料塗/鍍層測量儀器，可應用於材料的塗/鍍層
  厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品
  質量控制提供準確、快速的分析.基於Windows2000
  中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，
  實現了對CMI900/950主機的全面自動化控制，分析
  中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測
  定最多5層、15 種元素。數據統計報告功能允許用
  戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分
  析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、
  測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據
  平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范
  圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、
  CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。