DIP封裝集成電路老化測試座

該系列夾具適用於DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產品廣氾運用於航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊

產品型號及規格；

IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J（K）寬跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄腳、IC-28J、IC-28J（K）寬跨度、IC-40J

主要技術指標；
間距；2.54mm            環境溫度；-55℃—+155℃
接觸電阻；≤0.01歐     工作電壓；DC500V
單腳插入力；≤0.2Kg     彈片金層厚度；1um鎳2um金
插拔壽命；高低溫狀態下插拔壽命；2000-3000次