TO封裝集成電路老化測試插座

該插座用於金屬殼封裝集成電路的老化、測試、篩選作連結之用，連結金屬管材料採用磷青銅表面鍍金、鍍銀、鍍鎳等工藝，該插座耐高溫、絕緣性能好，經久耐用，深受用戶的歡迎。

產品型號及規格；

TO-4、6、8、10、12

主要技術指標；

環境溫度；-55℃—+155℃  接觸電阻；≤0.01歐     工作電壓；DC500V     單腳插入力；≤0.2Kg    

磷青銅管鍍銀層厚度；1um鎳2um銀     高低溫狀態下插拔壽命；2000-3000次.