Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀鍍層測厚儀 膜厚儀 測金機

韓國Micro Pioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀中國區一級專業資深代理商，集銷售、保養、校正（調試）及維修等專業服務一體化；長期提供XRF-2000測厚儀原裝進口零配件（X射線光管、正比例探測器及放大器等）。。

產品簡介

XRF-2000 X射線測厚儀鍍層測厚儀測金機膜厚儀
　　X-射線鍍層測厚儀的特征：
　　1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
　　2.可通過CCD攝像機來觀察及選擇微小面積以進行鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破坏被測物。
　　3.備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。
　　
　　一、韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀（全新原裝進口）
　　XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優越，而且價錢超值，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘，便能非破坏性地得到準確的測量結果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品台，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大／開放式的樣品台，可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的首選。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

膜厚測試符合國際標準：ASTMB568 ;   ISO3497;  DIN50987  。

校正標準片：符合NIST規範，附有美國國際標準之証明文件。
　　可測元素範圍：鈦（Ti）–鈾（U）原子序 22–92.
　　准直器：固定種類大小：可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
　　自動種類大小：可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
　　電腦系統：DELL品牌電腦，17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
　　綜合性能：鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統計功能