鍍層標準片又名膜厚儀校準片或薄膜片，專業用於X射線測厚儀(膜厚儀)在測量金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。
   UPA和Calmetrics一系列標準片，標準片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認証，可追溯到美國國家標準技術研究所NIST的認証，UPA和Calmetrics是美國原廠製作標準片的專業認証公司，其專門為X射線測厚儀大廠如德國費希爾Fischer、英國牛津Oxford、CMI、美國熱電Thermo、美國Veeco、日本精工Seiko、韓國Micro Pioneer等生產製作標準樣品。
   UPA和Calmetrics鍍層標準片適用於Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Seiko、Micro Pioneer等各品牌X-ray(X射線測厚儀)、β-ray(β射線測厚儀)、磁感式、微電阻、渦電流等多種原理的測厚儀。
   X射線測厚儀標準片一般分為單鍍層片、雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。      例如：單鍍層：Ag/XX，雙鍍層：Au/Ni/XX，三鍍層：Au/Pd/Ni/XX，合金鍍層：Sn-Pb/XX，化學鍍層：Ni-P/XX。(所有標準片都附有NIST証書)。
    我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片。

我們致力服務于PCB電路板廠商、SMT、五金首飾、連接器、LCD、科研機構、航空航天科技院校、汽車電子、醫療器械、品質檢測、半導體及封裝、微電子、光電子、光通訊等領域。