單晶型號測試儀
單晶型號測試儀是快速鑑別硅晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，測量範圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。

功能特點
儀器採用進口16位單片IC電路為核心，利用數字採集濾波技術，並用“P”和“N”數碼直接顯示，因而使測量的準確度和穩定性大幅度提高。儀器採用手持式三探針探頭，使用簡單，操作方便。
技術指標
■ 測量範圍： 硅單晶材料電阻率0.01~199.9Ω*cm
■ 可測量材料： 半導體硅棒和硅片、硅碎顆粒
■ 顯示方式： P、N直顯
■ 測試探頭： 手持式三探針（高速鋼）