晶圓表面缺陷檢測儀

晶圓表面缺陷檢測儀
型號:NP TT
品牌:德國NP公司
原產地:德國
類別:電子、電力 / 電子元器件 / 集成電路
標籤︰晶圓表面 , 缺陷監測 , 光罩
單價: -
最少訂量:1 件
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產品描述

NanoPhotonics成立于1997年,其設備主要用於半導體生產中裸芯片表面,邊緣,背面的沉積材料及基片的缺陷探測

REFLEX TT桌上型手動缺陷檢測系統
1. 65nm微粒靈敏度
2. 激光暗區域測量技術
3. 一級潔淨環境
4. 可選晶圓工作台
5. 集成迷你PC和平板顯示器
6. 離線分析
7. 工業標準
8. 自動化軟件

適用不同底材和尺寸
-光罩基板尺寸:2.5"×2.5"—8"×8“
-晶圓尺寸:2"—12"



付款方式︰TT / LC
晶圓表面缺陷檢測儀 1

會員信息

創世杰科技有限公司
國家/地區︰上海市杨浦区
經營性質︰貿易商
聯繫電話︰13524927377
聯繫人︰潘群鋒 (銷售經理)
最後上線︰2015/02/28