裝置簡要 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine

• 
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine將彈倉提供的晶盤固定於向X, Y, ø方向移動平台上，由線性掃描相機掃描生成芯片定位數據後，高精度相機進行多芯片同時檢查。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 驚人的處理速度 - 利用CPU/GPU核心處理進行高速並行處理。(60秒達到1萬個。)
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine高性價比。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 測定法簡單 - 只要從觸控屏畫面上方開始以對話形式依次觸摸按鈕，15分鐘完成(操作簡單，即使是新手也馬上能掌握。)
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine適應型學習軟體。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 採用新開發的圖像檢測演算法。克服傳統的學習合格品(圖案線)的缺點。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 應用: 各種晶圓，LED，功率設備，MEMS，LD，PD，半導體相關。
• 
  

特徵 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine

• 
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 可實行多芯片同時檢查。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 蕊片檢測範圍可進行靈活，詳細設定。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 軟體可對應多種芯片產品類型
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 不良蕊片可實行標記或剔除。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 檢測結果可文件輸出。
• 
  

檢查內容 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine

• 
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 線性掃描相機 - 芯片連結檢查、傾斜程度檢查、水平垂直位置檢查。
• 
  
  
• 晶盤・芯片外觀檢查裝置 | Wafer Inspection Machine 面型相機 - 污損、變色、異物、龜裂、陰影、劃傷
•