型號: | xrf-1 |
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品牌: | 博曼 |
原產地: | 美國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | 膜厚儀 , 半導體膜厚儀 , x射線膜厚儀 |
單價: |
¥40000
/ 台
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最少訂量: | 1 台 |
BOWMAN(博曼)X射線半導體膜厚儀此儀器主要用於鍍層或塗層厚度的測量,而且特別適合於對微細表面積或超薄鍍層的測量。Bowman博曼膜厚儀無數次的專利發明,包括使用DCM 自動對焦方法和透明的准值器,操作簡單。不用調校.
X-射線管的距離也可測量,操作人員只需要調校樣品焦距便可以測量。
BOWMAN(博曼)X射線膜厚儀可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
BOWMAN(博曼)X射線半導體膜厚儀應用於.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.
讓客戶滿意,為客戶創造最大的價值是金東霖追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作夥伴、共同描繪雙方的發展藍圖。聯繫人:舒翠 136 0256 8074 0755-29371655 QQ:2735820760
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最後上線︰ | 2014/03/20 |