型號: | xrf-1 |
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品牌: | 博曼 |
原產地: | 美國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | 膜厚儀 , 膜厚測試儀 , 電鍍膜厚儀 |
單價: |
¥40000
/ 台
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最少訂量: | 1 台 |
博曼PCB板X-RAY膜厚測試儀是一種專門應用於半導體材料、電子器件、微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄MicronX 比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括准直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套專利系統完成的。
博曼膜厚儀可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
博曼膜厚儀應用於.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.
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最後上線︰ | 2014/03/20 |