硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘餘應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研製了WPA-NIR雙折射測量儀，採用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘餘應力分布，安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View，可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用於量產現場

主要特點：

• 紅外波長的雙折射/相位差面分布測量 

• 硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估 
• 小型、簡単操作、高速測量
• WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
• 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View
• 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據
• 可搭配流水線對應的『外部控制選配』，也可應用於量產現場

主要功能：

• 高速測量面的雙折射/相位差分布  
• NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
• 測量數據的保存/讀取簡單快捷
• 全部的測量結果都可以做保存/讀取，易於跟過去的測量結果做比較等
• 豐富的圖形創建功能 
• 可以自由製作線圖形和直方圖
• 測量結果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出  

主要參數：

 

實際測量對比：