online內應力雙折射測量儀KAMAKIRI W

型號：	KAMAKIRI W
品牌：	Photonic Lattice
原產地：	日本
類別：	電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰	雙折射測量系統 , 內應力測量 , 相位差測量
單價：	-
最少訂量：	1 件

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產品描述

Photron集團公司是日本大型相機，視頻，軟件控制供應商，其旗下的高速/超高速攝像機業務應用非常廣氾，歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘餘應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結合，研製在線雙折射/殘餘應力測量儀，世界上僅有KAMAKIRI可以提供，廣氾應用於光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領域。

主要特點：

適用於薄膜等生產線上，實現各個環節的雙折射測量
LIVE實時輸出雙折射的信息
OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報
操作簡單，可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布
實時記錄雙折射的數值數據，以進行進一步詳細分析。
可以通過在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。

應用領域：

相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保護薄膜（PET/PEN/PS/PI）
樹脂成型
玻璃

技朮參數:

項次	項目	具體參數
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量範圍	0-130nm/0-260nm(選配)

4	主軸方位範圍	0-180°

5	測量重複精度	<1nm（西格瑪）

6	測量寬度尺寸	350mm

7	寬度方向測量點	2560