型號: | PA-300-XL SIC |
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品牌: | - |
原產地: | 日本 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | 內應力 , 相位差差測量 , 雙折射儀 |
單價: |
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最少訂量: | 1 件 |
在PA系類設備的基礎上,加裝晶圓專用的裝置,可以高效精確的測量SIC和藍寶石這類光學性能特殊的產品的雙折射和殘餘應力的信息。
主要特點:
應用領域:
技術參數:
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量範圍 | 0-130nm |
4 | 測量最小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重複精度 | <1nm(西格瑪) |
6 | 視野尺寸 | 40x48mm到240x320mm(標準) |
7 | 選配鏡頭視野 | 不適用 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制 |
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北京欧屹科技有限公司 | |
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國家/地區︰ | 北京市昌平区 |
經營性質︰ | 貿易商 |
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聯繫人︰ | 王新波 (銷售) |
最後上線︰ | 2020/04/20 |