內應力雙折射測量儀藍寶石專用PA-300-XL SIC

內應力雙折射測量儀藍寶石專用PA-300-XL SIC
型號:PA-300-XL SIC
品牌:-
原產地:日本
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰內應力 , 相位差差測量 , 雙折射儀
單價: -
最少訂量:1 件

產品描述

      在PA系類設備的基礎上,加裝晶圓專用的裝置,可以高效精確的測量SIC和藍寶石這類光學性能特殊的產品的雙折射和殘餘應力的信息。

 

主要特點

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。
  • 視野範圍內可一次測量,測量範圍廣。
  • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。
  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。
  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


應用領域:

  •    SIC
  •    藍寶石


技術參數: 

 

 

    項次            項目             具體參數
1  輸出項目  相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】
 
2 測量波長 520nm
 
3 雙折射測量範圍 0-130nm
 
4 測量最小分辨率 0.001nm
 
5 測量重複精度 <1nm(西格瑪)
 
6 視野尺寸 40x48mm到240x320mm(標準)
 
7 選配鏡頭視野 不適用
 
8 選配功能     實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制

 

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內應力雙折射測量儀藍寶石專用PA-300-XL SIC 1

會員信息

北京欧屹科技有限公司
國家/地區︰北京市昌平区
經營性質︰貿易商
聯繫電話︰17600738803
聯繫人︰王新波 (銷售)
最後上線︰2020/04/20