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主要規格
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規格描述
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X射線激發系統
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垂直上照式X射線光學系統
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空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
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標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
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功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
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裝備有安全防射線光閘
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二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
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准直器程控交換系統
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最多可同時裝配6種規格的准直器
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多種規格尺寸准直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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測量斑點尺寸
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在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
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在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
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樣品室
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CMI900
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CMI950
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－樣品室結構
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開槽式樣品室
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開閉式樣品室
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－最大樣品台尺寸
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610mm x 610mm
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300mm x 300mm
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－XY軸程控移動範圍
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標準：152.4 x 177.8mm
還有5種規格任選
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300mm x 300mm
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－Z軸程控移動高度
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43.18mm
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XYZ程控時，152.4mm
XY軸手動時，269.2mm
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－XYZ三軸控制方式
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多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
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－樣品觀察系統
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高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。
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激光自動對焦功能
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可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
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計算機系統配置
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IBM計算機
惠普或愛普生彩色噴墨打印機
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分析應用軟件
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操作系統：Windows2000中文平台
分析軟件包：SmartLink FP軟件包
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－測厚範圍
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可測定厚度範圍：取決于您的具體應用。
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－基本分析功能
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採用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
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樣品種類：鍍層、塗層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
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可檢測元素範圍：Ti22 – U92
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可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
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貴金屬檢測，如Au karat評價
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材料和合金元素分析，
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材料鑑別和分類檢測
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液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
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多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
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元素光譜定性分析
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－調整和校正功能
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系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
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－測量自動化功能
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鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”
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多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重複測量模式
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測量位置預覽功能
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激光對焦和自動對焦功能
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－樣品台程控功能
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設定測量點
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連續多點測量
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測量位置預覽(圖表顯示)
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