產品介紹:
HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，並且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求範圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業不可多得的測量儀器。

產品特點

■無接觸和無損傷測量

■自動測量，具有傳送系統，可進行連續測量

■快速測量，測試掃描速度達到2000mm/min

■測試範圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量

■主要應用於硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監控等。

■性價比高，極大程度地降低了企業的測試成本。